PIPS II 系统
TEM样品制备
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精密离子减薄仪用于高质量透射电镜样品的制备,它可精确定位减薄位置并对工艺参数进行精确控制
Solarus II 系统
新一代等离子清洗设备,去除TEM与SEM样品以及样品杆的碳氢化合物污染。
TEM截面样品制备工具包
适合用于制备半导体器件、薄膜和复合材料截样品的制样工具
超声波冲样机
以超声波切割脆性材料,以得到尺寸准确的3mm标准透射电镜样品或其他独特形状的样品。
手动研磨盘
预先减薄和抛光样品,以减少离子减薄的时间并提高样品质量
透射电镜样品冲孔机
针对金属、合金等塑性材料制备透射电镜 (TEM) 样品的首选方法
凹坑研磨仪
预先切薄以接近电子透明度的快速可靠的机械方法,可显著减少离子研磨时间和薄度不均现象。