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OnPoint BSE 探测器

扫描电镜探头和控制系统

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一款适用于 SEM 的高速低电压成像背散射电子探测器。
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DigiScan II 系统

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利用数字化的电子束控制和图像处理来提高数字成像系统的质量。
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3View 系统

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使用系列连续切片扫描电子显微镜对 3D 超微结构进行自动切片和图像捕获处理。
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冷冻样品台

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<p><span style="color: rgb(61, 51, 36); font-family: "Univers LT W02_55 Roman", "M Ying Hei PRC W48 W4", Arial, sans-serif; background-color: rgb(255, 255, 255);">采用液氦和液氮样品台来开展低温或温度相关研究，从而更好地了解您的电气和电子材料样品。</span></p>

采用液氦和液氮样品台来开展低温或温度相关研究，从而更好地了解您的电气和电子材料样品。
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Ilion II 系统

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<p><span style="line-height: 18.9px;">采用低加速电压抛光制备无损的 </span>SEM 截面样品</p>

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PECS II 精密离子刻蚀与镀膜系统

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<p><span style="line-height: 1.6;">利用宽幅氩离子束对样品进行抛光和镀膜处理，从而得到高质量的SEM 成像和分析结果</span></p>

利用宽幅氩离子束对样品进行抛光和镀膜处理，从而得到高质量的SEM 成像和分析结果
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Murano 原位实验样品台

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