从配备扫描透射模式的电子显微镜（STEM）上采集样品详细分析信号的系统方案。
STEMPack™ 是从配备扫描透射模式的电子显微镜（STEM）上采集样品详细分析信号的系统方案。通过多种采集模式，您可以通过线扫描或者面扫描模式来火车样品中具体位置的丰富分析信号。这种数据采集和分析方式，是谱图模式（Spectrum Imaging）的基础。 在指定的样品区域上，谱图模式系统地、全自动的中收集尽可能多的信息。STEMPack 系统支持从各种探测器获取数据，包括：电子能量损失谱仪(EELS)、X 射线能谱仪 (EDS)、阴极发光探测器(CL)、电子束吸收/感应电流 (EBAC/EBIC) 和相机。然后会通过有效的处理和可视化方法来分析生成的数据，以便反映样品的独特信息。将详细的光谱信息和高空间分辨率相结合是分析电镜的最大应用价值之一，而 STEMPack 系统可以帮助您实现这一价值。
STEMPack 高速 EDS 获取，777.U3 型 STEMPack 高速谱图成像升级，777.U2 型
使用 Gatan Microscopy Suite 同步采集 EELS 和 EDS，实现快速 STEM 光谱成像 借助同步 STEM EDS 和 EELS/ELNES 增强相鉴别
对 Pd-Au 的催化剂的快速 STEM EELS 谱图成像分析 新一代 EELS 分光计效率极高，能够以毫秒速度从重元素中获取细节详实的 EELS 光谱，生成具有出色信息内容的成分图。
使用 EELS 进行生物材料的定量研究 经实践证明，EELS 是从生物样品中获取成分信息的宝贵工具。除成分以外，EELS 还提供了对化学特性的深入见解，揭示了化学键性质和不同的氧化态。
以 DualEELS 模式进行高原子序数金属合金的高速成分分析 证明了通常可从高能量边缘获取具备高对比度和高信噪比的高速原子 EELS 成分图。
使用 DualEELS 模式中高能量损失的快速原子级 EELS 面分布分析 证明了使用高能量边缘进行的原子 EELS 映射非常有效。高能量边缘的高信背比简化了数据提取。
跨 III-V MOSFET 高介电系数栅极中的界面处的原子级 EELS 分析 证明了 EELS SI 可揭示原子列级的高介电系数 MOSFET 设备栅元素分布。
STEMPack 光谱成像平台，777.U1 型 带高级 BF/DF 探测器的 STEMPack 光谱成像平台，963.U5 型 STEMPack 高速光谱成像升级，777.U2 型 STEMPack 高速 EDS 获取升级，777.U3 型 EDS 获取套件，707.10 型 衍射成像套件，703.50 型 光谱图像级映射，703.70 型 阴极发光光谱成像套件，CLSI 型
GIF Continuum 以及 Continuum S Gatan Microscopy Suite® 软件 高级 STEM 探测器 Monarc CL 探测器
