“电子能量损失谱 (EELS) 能否帮助我测量钢样本中的碳含量？”
“我能否用 TEM 能量过滤像来看出纳米级催化剂粒子中铂的分布？”
“我是否需要场发射 TEM，以便利用 EELS 探测器件截面中的硼元素？"
日常实验中有各种各样的问题困扰着分析显微镜工作者。无法推理性地回答出这些问题通常会导致在 TEM 实验室中拜拜浪费宝贵的机时。现在，有一种工具能够帮助您在甚至没有制备 TEM 样品的情况下就能解决许多此类问题。这种工具就是 EELS Advisor 软件。
EELS Advisor 软件以电子能量损失谱理论建模的最新发展为基础（参见下方参考文献）。它综合考虑了 EELS 技术的复杂性，并以清晰、易于使用的界面（参见下方 UI 面板的屏幕截图）显示，以回答关于 EELS 实验的常见问题。
EELS Advisor 是一个适用于 Gatan Microscopy Suite® (GMS) 软件系统的插件模块。因此，可通过购买适当的 EELS Advisor 的授权许可文件，将其轻松添加到现有的 GMS 设备。EELS Advisor 模块可用于在线和离线版本软件，并且可以添加到任一 GMS 设备类型。它是对任何已经包含 Gatan EELS Analysis 模块设备的完美补充。
从 GMS 1.3 版本开始，EELS Advisor 开始成为软件的一个模块。尽管该 GMS 安装程序免费提供给所有现有的 GMS 1.x 客户，但您的 GMS 授权许可文件必须包含 EELS Advisor 项才能正常使用。可从当地 Gatan 销售代表处购买 EELS Advisor。
EELS Advisor 具有三大主要功能：模拟功能、OptiEELS功能 和 OptiMAP功能。每个功能分别适用于回答不同类型的 EELS 分析问题。下列示例对这三个使用模式进行了说明。
模拟：EELS 谱的模拟
要模拟光谱，将基本信息输入“EELS Advisor”选项对话框的“样品”和“实验”面板即可，如上图所示。依次单击“EELS Advisor”面板上的“确定”和“模拟”按钮，一两秒内即可生成电子能量损失谱。借助 GMS ，您可以像分析 EELS 试验结果那样来分析此类模拟谱线，如上图所示。
注意：在此情况下，几乎不可能探测碳 K 边。借助这种模拟，您可以快速有效地得出以下结论：由此材料制备 TEM 标本以尝试进行碳含量的 EELS 测量可能并不值得。
OptiEELS：为 EELS 采集找到最佳实验参数
执行类似于上述的模拟后，您可能仍想知道：如果您已经审慎地选择了实验条件，这个测量是否可行？OptiEELS 功能非常适合来解答此类问题。
转到选项对话框的“优化”面板，告知软件您可以改动的实验设置，如左图所示。单击“OptiEELS”，只需几秒钟的计算，EELS Advisor 就会告知您在当前参数设置下，结果是否足以能够得出任何确切的结论，以及哪些参数需要优化。
这些结果会以带注释的 GMS 图像文档形式输出，如下所示。
OptiMAP：确定 EFTEM 元素面分布的最佳条件
假设您确定需要做出样品中的Cr元素，这在实验上可以实现吗？如果可行，那搜集元素面分布的最佳方式是什么？要回答这些问题，请使用 OptiMAP 功能。该功能可根据您输入的样品和实验信息，并在几秒内计算出面分布图像的最佳狭缝宽度和能量位置。然后它还将估算您面分布信号的信噪比 ，以便您评估是否值得开展这个实验。与 OptiEELS 结果类似，OptiMAP 的输出也是一个 GMS 图像文档。示例如下所示。
参考文献
N.K.Menon and O.L.Krivanek, "Synthesis of Electron Energy Loss Spectra for the Quantification of Detection Limits," Microscopy and Microanalysis 8 (2002) p.203
