通过突破性的光路设计，Monarc具有显著增加的灵敏度和谱分辨率，由此带来的独具特色的波长-角度分辨能力，使您能够进行更为完整的阴极荧光（CL）表征分析工作。作为新一代的CL探测器，Monarc为高要求的纳米光子学（nanophotonice）、光电子学（optoelectronics）以及地质科学等应用领域带来了全新的见解。
快速获取高质量数据
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以优异的空间分辨率（<10 nm）、角分辨率（1°）和波长分辨率（0.1 nm）采集CL数据
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采集同时具有角度和波长分辨的CL数据
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相较前代技术，以高达30倍的更快速度采集超光谱（hyperspectral）数据
操作简便
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通过全自动的光路对准和基于配方驱动的操作，得到优化的结果
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恒常对准的光路为短期与长期工作带来可重复的结果
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大视野提高数据采集通量，并简化用户的工作流程
与其它信号的精确关联
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同时侦测多种信号，对物理性质或成分信息与CL数据进行关联成像
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不需折衷妥协——在进行CL测量的同时，充分利用SEM的in-lens探头
特色功能
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角度分辨（angle-resolved CL，ARCL）：在远低于光学衍射极限的尺度上理解光与物质的交互作用——相较前代技术，400x 更大视野，且不产生实际分辨率损失（专利申请中）
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波长-角度分辨（wavelength- and angle-resolved CL, WARCL）：跨越多重观察角度与波长，对光与物质的交互作用进行可视化——归功于独特的光路设计，以前无法做到或非常难以实现的表征手段，在Monar上成为常规工作
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偏振过滤：获知例如光波段担任纳米天线、光子晶体等深度次波长结构的发光偏振性能
