对于 EELS SI 数据的采集和利用扫描透射模式 (STEM)的面分布分析，适当控制探测器接受角度对数据的收集效率及其解释至关重要。高级 STEM 探测器经过优化，与 EELS 系统完美配合，可在整个角度范围对散射电子无缝收集，从而增进对每个样品的化学和成分信息的了解。
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针对 EELS、衍射衬度 STEM像 和 HAADF STEM像的采集进行了优化的探测器，实现电子收集的最大化
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向前散射电子 — EELS 信号（0 到 β）、收集角 β受 STEM 照相机长度控制
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中等散射角度电子 — 高级 BF/DF STEM 探测器（~β 到 2x β）
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高角散射电子 — HAADF 探测器（~2x β 到 7x β）
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经校准的探测器和系统增益，以便进行强度的绝对值测量
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基于低噪声电路和闪烁体/光电倍增管的 (PMT) 的设计
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在低束流下探测单电子
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在常用束流条件下可记录高信噪比的图像
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利用自动 PMT 增益选择实时优化图像对比度
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计算机控制的探测器增益，便于进行远程操作
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一键即可从暗场切换到明场 STEM 模式（807 型）
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与 GIF Contiunuum™,GIF Quantum® 和 Enfinium™ EELS 系统完美集成
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与 Gatan 照相机和 DigiScan™ II 系统相兼容，实现对现有 STEM 设备的升级
