在需要在多个样品中进行比较筛选的应用中，多头样品杆可极大程度的提高工作效率。
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在环境温度或低温下操作，具体取决于样品杆型号
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可互换的样品盒设计便于转移和储存脆弱的样品
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FIBBEM™ 机匣的一侧可以让离子束和活性气体与样品发生反应；后续可将机匣连接到样品杆，以便在 TEM 中进行观察
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型号
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样品倾转
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样品固定
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可互换的机匣
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工作温度
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677
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α 倾斜
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Hexring® 机制
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是1、2
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环境
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677.FIB
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α 倾斜
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FIBBEM 暗盒
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是1
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环境
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910
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α 倾斜
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Splitring® 机制
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是3
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低于-170 °C
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1 Hitachi 和 Zeiss TEM 的样品杆支持两个样品位置。FEI 和 Topcon TEM 的样品杆支持三个样品位置。JEOL TEM 的样品杆支持五个样品位置。
2 小极靴间隙配置没有可拆卸式暗盒。
3 Hitachi 和 Zeiss TEM 的样品杆支持两个样品位置。FEI、JEOL 和 Topcon TEM 的样品杆支持三个样品位置。
