TEM 分析样品杆适用于基本的成像和分析应用,例如对 TEM 样品的电子衍射和 X 射线能谱法 (EDS) 分析。
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样品压片为铍金属,可尽量减少不必要的 杂散X 射线信号
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样品杆头部的几何形状与 TEM 极靴配置相符,以减少 EDS 信号的遮挡
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为了便于 X 射线定量分析,非旋转的样品杆配有一个小法拉第杯,位于样品杆尖头处
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不可旋转的样品杆可以安装电极
型号
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铍支架
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样品定位
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样品固定
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电动控制
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法拉第杯
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最大引电极数(选配)
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643
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标准
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α 倾斜
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Hexring® 机制
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标准
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6
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646
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标准
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α、β 倾斜
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Hexring 机制
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β 倾斜
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标准
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4 – 61
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650
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标准
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α 倾斜和旋转
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Hexring 机制
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旋转
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否
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0
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925
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标准
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α、β 倾斜和旋转1
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Hexring 机制
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否
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0
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1 JEOL UHR 需要 2–6 个,所有其他 EMM 需要 2–4 个