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冷冻样品杆适用于需要低温观察原位相变的应用，同时冷冻也可以降低样品表面碳迁移速率从而抑制样品污染

• 减少样品的污染和电子束损伤，减少各种分析技术中不必要的热效应，有助于 X 射线能谱 (EDS) 和电子能量损失能谱法 (EELS) 分析
• 用于 EDS 应用时，样品杆头部的几何形状经过优化设计，减少 EDS 分析的阴影

液氮冷冻样品杆

型号	最低工作温度	铍压片	样品定位	样品固定	电动控制	法拉第杯	最大引电极数（选配）
613	低于-170 °C	√	α 倾斜	Hexring® 机制		选配	6
636	低于-170 °C	√	α、β 倾斜	Hexring  机制	β 倾斜	选配	0

 

液氦冷冻样品杆

型号	最低工作温度	铍支架	样品定位	样品固定	电动控制	最大引电极数（选配）
HCHST3008	20 K	选配	α 倾斜	固定环1		4
HCHDT3010	20 K	选配	α、β 倾斜	固定环1	β 倾斜	42
ULTST	6 K	选配	α 倾斜	固定环1		4
ULTDT	6 K	选配	α、β 倾斜	固定环1	β 倾斜	42

多功能冷冻样品杆

型号	最低工作温度	铍支架	样品定位	样品固定	专用功能	电动控制	最大引电极数
671	低于-170 °C		α 倾斜	Hexlok™ 固定 螺丝	拉紧	拉紧	0
CHVT3007	低于-170 °C	选配	α 倾斜	固定环1	真空转移		0

¹ 分析配置采用 Hexring 机制。
² 采用电学连接的配置是此样品杆的特殊版本。
³ 样品杆包含电极连接。